Standardlar
| TS EN 60749-19 |
Yarı iletken elemanlar - Mekanik ve iklimsel deney metotları - bölüm 19: Yongacık kopma dayanımı
| 29.04.2008 | 31.080.01 |
| TS EN 60917-2-3 |
Elektronik donanım uygulamaları için mekanik yapıların geliştirilmesi için modüler sıra - Bölüm 2-3: Bölüm özelliği - 25 mm donnaım uygulaması için ara yüz koordinasyon boyutları - Genişletilmiş detay özelliği - Alt raf şasesi, arka düzlemler, ön düzlemler ve soket birimleri için boyutlar
| 09.04.2009 | 31.240 |
| TS EN 60603-7-41 |
Elektronik cihazlar için bağlayıcılar - Bölüm 7-41: 8-Yollu, ekranlanmamış serbest ve sabit bağlayıcılar ve 500 MHz'e kadar olan frekanslarda veri iletimi için detay özelliği
| 13.07.2010 | 31.220.10 |
| TS EN 60917-2-4 |
Elektronik donanım uygulamalarında mekanik yapıların gelişimi için modüler düzen bölüm 2-4:Bölüm özellikleri-25 mm donanım uygulaması için ara yüz koordinasyon boyutları - IEC 60297-3-100'e göre kabinlerde veya raflarda uygulanabilen alt raflar veya şaseler için adaptasyon boyutları
| 13.07.2010 | 31.240 |
| TS EN 61643-311 |
Alçak gerilim şok koruma cihazlarıyla ilgili
bişelenler-Bölüm 311:Gaz boşalmalı tüpler için
özellikler
(IEC 61643-311:2013)
| 13.02.2014 | 31.100 |
| TS EN 61643-312 |
Alçak gerilim şok koruma cihazlarıyla ilgili bişelenler-Bölüm 312:Gaz
boşalmalı borular için özellikler
| 13.02.2014 | 31.100 |
| TS EN 62047-11 |
Yarıiletken elemanlar - Mikro-elektromekanik elemanlar - Bölüm 11: Mikro-elektromekanik sistemler için serbest durabilen malzemelerin doğrusal ısıl genleşme katsayıları ile ilgili deney yöntemi
| 13.02.2014 | 31.080.99 |
| TS EN 61338-1-3 |
Dalga klavuzu tipli dielektrik renzonatörler - Bölüm 3: Genel bilgi ve deney şartları - Mikrodalga frekansındaki dieletrik rezonatör malzemeler için komplex bağıl geçirgenlik ölçme metodu (ıec 61338 -1-3:1999)
| 21.11.2000 | 31.140 |
 | TS EN ISO 11146-2 |
Lâzer ve lâzerle ilgili donanım - Lâzer ışın demeti genişliği, sapma açıları ve ışın demeti yayılım oranları için deney metotları - Bölüm 2: Genel astigmatik ışın demetleri
| 16.02.2006 | 31.260 |
| TS EN ISO 11146-1 |
Lâzer ve lâzerle ilgili donanım - Lâzer ışın demeti genişliği, sapma açıları ve ışın demeti yayılım oranları için deney metotları - Bölüm 1: Stigmatik ve astigmatik ışın demetleri
| 16.02.2006 | 31.260 |
| TS EN 60444-7 |
Kuvars kristal birimine ait parametrelerin ölçülmesi - bölüm 7: Kuvars kristal birimlerinin çalışma ve frekans çukurlarının ölçülmesi
| 29.04.2008 | 31.140 |
| TS EN 60738-1 |
Termistörler - Doğrudan ısıtmalı pozitif sıcaklık katsayısı - Bölüm 1: Genel özellik standardı
| 09.04.2009 | 31.040.30 |
| TS EN 60738-1-3 |
Termistörler - Doğrudan ısıtmalı pozitif basamak fonksiyonlu sıcaklık katsayısı - Bölüm 1-3: Boş detay özellik standardı - Ani akım uygulaması - Değerlendirme seviyesi ez
| 09.04.2009 | 31.040.30 |
| TS EN 60384-13 |
Elektronik cihazlarda kullanılan sabit kondansatörler - Bölüm 13: Bölüm özellikleri - Sabit, metal yapraklı polipropilen film dielektrikli doğru akım (d.a.) kondansatörleri
| 05.06.2012 | 31.060.30 |
| TS EN 60444-6 |
Kuartz kristal birim parametrelerinin ölçümü-Bölüm 6: Sürücü seviye bağımlılığının ölçümü (ssb)
| 13.02.2014 | 31.140 |
| TS EN 62215-3 |
Tümleşik devreler - Ani darbeye karşı bağışıklık ölçülmesi - Bölüm 3: Eş zamanlı olmayan geçici rejim enjeksiyonu yöntemi
| 13.02.2014 | 31.200 |
| tst 13243 |
Yetkili servisler - LED’li grafik tabanlı görüntülü duyuru cihazları için kurallar
| | 31.180 |
| TS EN 61760-4/A1 |
Yüzey montaj teknolojisi- Bölüm 4: Neme duyarlı elemanların sınıflandırılması, ambalajlanması, etiketlenmesi ve taşınması
| 19.11.2018 | 31.190 |
| TS EN 60068-2-69/AC |
Çevre şartlarına dayanıklılık deneyleri – Bölüm 2-69: Deneyler – Deney Te/Tc: Islatma denge (kuvvet ölçme) yöntemi ile elektronik bileşenler ve baskılı devre kartlarının lehimlenebilirlik deneyi
| 19.11.2018 | 31.190 |
| TS EN 61270-1 |
Mikrodalga fırınlar için kapasitörler - bölüm 1: Genel
| 07.04.2005 | 31.060.01 |
| TS EN ISO 15367-2 |
Lâzer ve lâzerle ilgili donanım - Bir lâzer ışın demeti dalga yönü (sınırı) şeklinin bulunması için deney metotları - Bölüm 2: Hartmann-Shack algılayıcıları
| 16.02.2006 | 31.260 |
| TS EN 60825-12 |
Lazer ürünlerin güvenliği - Bölüm 12: Bilginin iletilmesi için kullanılan serbest uzay optik haberleşme sistemlerinin güvenliği
| 05.04.2011 | 31.260 |
| TS EN 60384-24-1 |
Elektronik donanımda kullanılan sabit kondansatörçler - Bölüm 24-1: Boş detay özellik standardı - İletken polimer katı elektrolitli yüzeye monteli sabit tantalum elektrolitik kondansatörler - Değerlendirme seviyesi ez
| 09.04.2009 | 31.060.40 |
| TS EN 60384-25-1 |
Elektronik donanımda kullanılan sabit kondansatörçler - Bölüm 25-1: Boş detay özellik standardı - İletken polimer katı elektrolitli yüzeye monteli sabit alüminyum elektrolitik kondansatörler - Değerlendirme seviyesi ez
| 09.04.2009 | 31.060.40 |
| TS EN 60384-25-1 |
Elektronik donanımda kullanılan sabit kondansatörçler - Bölüm 25-1: Boş detay özellik standardı - İletken polimer katı elektrolitli yüzeye monteli sabit alüminyum elektrolitik kondansatörler - Değerlendirme seviyesi ez
| 09.04.2009 | 31.060.50 |
| TS HD 525.2 S1:1989/A1 |
Beyon gerilimi 660 v üzerindeki a.a güç sistemleri için şönt kapasitörler bölüm 2: Dayanıklılık deneyi
| 05.06.2012 | 31.060.70 |
| TSE K 189 |
Gece görüş cihazları
| 05.04.2013 | 31.260 |
| TS IEC 60319 |
Elektronik bileşenler için veri güvenilirliğinin sunumu ve teknik özellikler
| 18.02.2016 | 31.020 |
| TS EN 60384-1 |
Elektronik donanımlarda kullanılan sabit kondansatörler Bölüm 1:Genel özellikler
| 06.02.2017 | 31.060 |
| TS EN 60384-3 |
Elektronik ekipmanlarda kullanılmak üzere sabit kondansatörler - Bölüm 3: Bölüm özellikleri - Katı (MnO2) elektrolitli yüzey montajlı sabit tantal elektrolitik kapasitörler
| 06.02.2017 | 31.060.30 |
| TS EN 60749-44 |
Yarı iletken elemanlar - Mekanik ve iklimsel deney metotları - Yarıiletken cihazlar için nötron ışını ışınlanmış tek olay efekti (SEE) test yöntemi
| 06.02.2017 | 31.080.01 |
| tst 13611 |
Yetkili servisler - Programlanabilir otomasyon sistemleri için kurallar
| | 31.220 |
| TSE IEC/TR 1088 (TSE IEC/TR 61088) |
Ultrasonik piyezoseramik transduserlerin özellikleri ve ölçülmesi
| 14.04.1997 | 31.140 |
| TS EN 60512-11-2 |
Elektronik cihazlar için bağlayıcılar-Deneyler ve ölçmeler-Bölüm 11-2: İklimlendirme deneyleri-Deney 11b: Birleştirilmiş ardışık soğuk, alçak hava basıncı ve yaş sıcaklık deneyi
| 10.03.2003 | 31.220.10 |
| TS EN 60444-11 |
Kuvartz kristal birim parametrelerinin ölçülmesi - Bölüm 11:Otomatik ağ analizör teknikleri ve hata düzeltmesi kullanılan etkin yük kapasitans cleff ve yük rezonans frekansı fl'nın tayini için standard metot
| 12.04.2011 | 31.140 |
| TS EN 61076-4-116 |
Elektronik cihazlar için konektörler - Ürün özellikleri- Bölüm 4-116: Baskılı devre konektörleri - Entegre koruma fonksiyonu ile yüksek hızlı iki parçalı bağlantı için detay özellikleri
| 12.06.2013 | 31.220.10 |
| TS EN 60749-6 |
Yarı iletken cihazlar - mekanik ve iklimlendirme deney metotları - Bölüm 6: Yüksek sıcaklıkta depolama
| 15.01.2018 | 31.080.01 |
| TS EN 60749-5 |
Yarı iletken elemanlar - Mekanik ve iklimsel deney metotları - bölüm 5: Sürekli durum, sıcaklık ve nem kutuplamalı ömür deneyi
| 15.01.2018 | 31.080.01 |
| TS EN 62884-1 |
Piezoelektrik, dielektrik ve elektrostatik osilatörlerin ölçüm teknikleri - Bölüm 1: Ölçüm için temel yöntemler
| 15.01.2018 | 31.140 |
| TS 9772 |
Işığa duyarlı elemanlar-Bölüm 3: Görünür spektrumda kullanılan fotoiletken hücrelerle ilgili ölçme metotları
| 28.01.1992 | 31.260 |
| TS EN 100012 |
Elektronik malzemelerin x- Işını ile muayenesi- Temel özellikler
| 20.03.2001 | 31.020 |
| TS EN 60368-4-1 |
Kalitesi değerlendirmesi yapılmış piyezoelektrik süzgeçler - Bölüm 4-1: Boş detay özelliği - Yetenek onayı
| 28.01.2004 | 31.140 |
| TS EN 60368-4-1 |
Kalitesi değerlendirmesi yapılmış piyezoelektrik süzgeçler - Bölüm 4-1: Boş detay özelliği - Yetenek onayı
| 28.01.2004 | 31.160 |
| TS EN 61360-1 |
Elektrik öğeleri için standard veri eleman tipleri ve ilgili sınıflandırma planı - Bölüm 1: Tarifler - İlkeler ve yöntemler
| 12.04.2012 | 31.020 |
| TS EN 60747-15 |
Münferit yarı iletken elemanlar - Bölüm 15: İzole edilmiş yarı iletken güç elemanları
| 05.06.2012 | 31.080.99 |
| TS EN 60384-22 |
Elektronik cihazlarda kullanılan sabit kondansatörler - Bölüm 22: Bölüm özellik standardı: Sınıf 2 seramik dielektrik sabit yüzeye takılan çok katmanlı kondansatörler
| 05.06.2012 | 31.060.20 |
| TS EN 60512-12-6 |
Elektronik cihazlar için- Elektromekanik bileşenler-Temel deney işlemleri ve ölçme metotları -Bölüm 12: Lehimleme deneyleri- Kısım 6: Deney 12f: Makina ile lehimlemede pasta ve temizleme çözücülerine ve lehim pastasına karşı sızdırmazlık
| 12.11.2001 | 31.220 |
| TS EN 61249-2-40 |
Baskılı devre kartları ve diğer ara bağlantı yapıları için malzemeler - Bölüm 2-40: Kaplanmış veya kaplanmamış takviyeli temel malzemeler - Aevleneblirliği tanımlanmış olan (dikey tutuşma deneyi) yüksek perfformanslı, halojenize edilmemiş epoksi , E-cam kumaş laminat tabaka, bacaksız kurulum için bakır kaplı
| 12.06.2013 | 31.180 |
| TS EN 61193-3 |
Kalite değerlendirme sistemleri - Bölüm 3: Baskılı devre kartı ve laminat son ürün ve süreçte denetim için numune alma planlarının seçimi ve kullanımı
| 12.06.2013 | 31.190 |
| TS HD 363 S1 |
Elle çalıştırılan elektronik bileşenlerin mil uçlarının boyutları
| 21.11.2000 | 31.240 |